大力推廣王子計測機器株式會社 偏光測定裝置

■化學行業(yè)

日本王子OSI計測機器型號總匯：
BF-7S,BF-7D,BF-7,BF-96AS,BF-MS,BF-96ASX,BFDC,
BF-510,BF-3000,KOBRA-WPR,測定裝置,DA-7000,
DIP-2000,DIP-200,DF-2000,TF-2000,KOBRA-WR,
KOBRA-WFD,KOBRA-WX,KOBRA-CCD,KOBRA-IMS,SAPA,
KOBRA-WI,KOBRA-WIS/RT,KOBRA-WI/SPC,PAM-P100,
PAM-IMS100,PAM-UHR100,MOA-6000,

日本王子OSI計測機器高速的BF-7酶電極法生物傳感器的高精度分析，物質的濃度， 物質轉化抗體**疫苗生產(chǎn)用動物細胞，利用微生物，食品，化工產(chǎn)品，原材料分析。 它可以用于研究，開發(fā)和質量管理解決方案，如塑料的生產(chǎn)。 這些生物過程，有必要迅速掌握該物質的濃度，已效率。 BF-7是一種高速和現(xiàn)有技術的酶試劑盒，會減少前處理的負擔繁瑣的液相色譜。

BF-7S,王子OSI計測機器，生物傳感器的高精度分析儀

BF-7D,王子OSI計測機器，科學儀器,物質分析儀

BF-7,王子OSI計測機器，科學儀器，物質高精度分析儀

BF-96AS,王子OSI計測機器，科學儀器，物質分析儀

BF-MS,王子OSI計測機器，科學儀器，生物高精度分析儀

BF-96ASX,王子OSI計測機器，科學儀器，物質分析儀

BFDC,王子OSI計測機器，科學儀器，生物高精度分析儀

BF-510,王子OSI計測機器，科學儀器，生物高精度分析儀

BF-3000,王子OSI計測機器，科學儀器，微生物分析儀器

KOBRA-WPR,測定裝置,日本王子計測機器

DA-7000,王子OSI計測機器,汎用畫像処理

DIP-2000,王子OSI計測機器,微細異物測定裝置

DIP-200,王子OSI計測機器,微細異物測定裝置

DF-2000,王子OSI計測機器,紙塵測定裝置

TF-2000,王子OSI計測機器,測定裝置

KOBRA-WR,測定裝置,日本王子計測機器

KOBRA-WFD,位相差測定裝置,日本王子

KOBRA-WX,位相差測定裝置,日本王子

KOBRA-CCD,位相差測定裝置,日本王子

KOBRA-IMS,位相差測定裝置,日本王子

SAPA,偏光解析裝置,日本王子計測機器

KOBRA-WI,位相差計,日本王子計測機器

KOBRA-WIS/RT,位相差計,日本王子計測機器

KOBRA-WI/SPC,位相差計,日本王子計測機器

PAM-P100,偏光方位角測定器,日本王子

PAM-IMS100,複屈折測定裝置,日本王子

PAM-UHR100,超高位相差測定裝置,日本王子

MOA-6000,分子配向計,日本王子計測機器

多功能裝置FIA  生物流量BF系列 BF系列動員特異性與固定化酶，高精度電化學檢測技術，高速流動注射分析技術，食品，釀造，發(fā)酵，再生醫(yī)學，研究疫苗的生產(chǎn)它是*適合開發(fā)和質量控制的分析儀。

BF-7D 多功能生物傳感器	BF-7M 動物細胞培養(yǎng)的生物膜

BF- 48 AS 48樣品自動進樣器

BF - 30 ASX 2 30樣品自動進樣器

BF-96 ASX 微孔板自動進樣器

OLBIS 中等在線分析單元

BF-3000 BODs測量生物傳感器

圖像處理設備 OSIA系列 操作簡單...圖像分析可以用*少的屏幕操作進行。 免費設計...我們根據(jù)用戶需求量身定制。

通用圖像處理系統(tǒng) DA - 7000  簡單的系統(tǒng)是高性能的！ 任何人都可以處理的高性能專用機器。這是OSI圖像分析系統(tǒng)的概念。

旅行評估設備 DA-7000  使用可選掃描儀簡單測量打印機的運行性能。

打印機評估系統(tǒng) 這是以APQSDA-7000為主體的打印機打印測試圖自動測量裝置。

打印機評估系統(tǒng)（ 簡化版）APQS基本 成本低，提供APQS功能。因為它是一個簡單的階段，所以**于圖像中的測量。

精密異物測量裝置 DIP - 2000 測量精細異物 達0.5μm。用專用的查看器與圖像對比可以檢查數(shù)據(jù)。

相位差測量裝置 KOBRA系列 通過常規(guī)進行雙折射的分子取向評估，但是用折射計或偏振顯微鏡測量是麻煩的，并且難以**測量。 KOBRA系列可以通過簡單的操作快速而準確地測量相位差，雙折射，方位角（折射率的*大方向）。 1.測量范圍寬···1nm?2·  重復性高·±1nm·  操作性優(yōu)異 4。實現(xiàn)軟件

測量對象：

■延遲膜，Placel，偏光板 ■光盤 ■液晶盒 ■磁帶基膜 ■收縮膜 ■其他通用膜

應用：

■研究和光學功能膜的開發(fā)，質量控制 ■拉伸膜（三維折射率，表面取向）的取向評價 ■包裝膜的熱收縮，抗撕裂性的評價等 ■液晶單元，所述波長分散性的評價的扭曲角 ■光學元件的透射橢圓偏振光的評價

設備名稱 相位差/橢圓 測量裝置 橢圓偏振測量裝置 相位差測量裝置 帶有進樣 器的相位差測量裝置 設備類型 KOBRA-HB系列  KOBRA-WPR KOBRA-WR KOBRA-WFD 測量方法 平行尼科爾旋轉方法 旋轉偏振器法 平行尼科爾光譜法 平行尼科爾旋轉法 旋轉式偏振片法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 測量波長 450,500,550,590,630,680nm 400-800nm  （光譜學） 450，500，550，590，630，750nm 樣本大小 垂直入射角測定：30mm見方以上 入射角依存性：30mm?40×50mm，t 3以下 輪廓測量： 寬度50mm×長度可選 入射角依賴性： 30mm至40 ×50mm ， t 3或更小 測量區(qū)域 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積） φ0.8mm（光譜學） 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積） 軟件名稱   KOBRA-RE  KOBRA-PR  KOBRA-TW KOBRA-RE KOBRA - DSP / FD  KOBRA - RE 測量項目   面內(nèi)延遲測量 入射角依賴 波長色散特性 橢圓偏振測量 扭曲角測量 測試模式 面內(nèi)延遲測量 入射角依賴 波長色散特性 相位剖面 入射角依賴 波長色散特性

設備名稱 用于長樣本的相位差測量裝置 相位差測量裝置的偏光板 在線相位差計 在線相位差計 設備類型 KOBRA-WX *** 系列 KOBRA-WX *** / IR  系列 KOBRA-WI系列  KOBRA-WIS / RT 測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾旋轉方法 測量波長 450，550，590，650nm 850,900,950,1000,1050,1100nm 590納米 樣本大小 取決于樣本階段   測量區(qū)域 33毫米2（5.8毫米角：Jukoko面積）     軟件名稱 KOBRA-DSP / X KOBRA-DSP / XIR   測量項目 相位差和方位角 分布 PVA基材和碘的延遲譜 相位差 相位差，方位角（Rth）

設備名稱 微區(qū) 相差測量裝置  相位差分布測量裝置 微區(qū) 橢圓計 一般膠片 在線相位差計 設備類型 KOBRA-CCD KOBRA-IMS SAPA  KOBRA-WI / SPC 測量方法 平行尼科爾旋轉方法 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法 平行尼科爾光譜學 測量波長 590納米     樣本大小     測量區(qū)域         軟件名稱     測量項目 相位差分布，取向角分布 相位差分布，取向角分布的輪廓 相位差 相位差

設備名稱 極化方位測量儀 管 雙折射測量裝置 超高相位差測量裝置 便攜式橢圓偏振 測量裝置 設備類型 PAM-P 100 PAM-IMS 100 PAM-UHR 100 PAM-PTB 100 測量方法   平行尼科爾光譜學 平行尼科爾光譜學 旋轉分析儀的方法 測量波長 590納米   樣本大小   透明管，纖維，單軸拉伸膜 □40毫米，3毫米或更少 測量區(qū)域       天然發(fā)光體如面板 軟件名稱     測量項目 偏振方位角，透射率 相位差 相位差，方向角，雙折射 橢圓，橢圓形方位角

設備名稱 光軸測量裝置             設備類型 PAM-PR 300       測量方法 旋轉偏振片法 平行尼科耳旋轉法 正交尼科耳旋轉法       測量波長 590nm  選項： 450nm，630nm   樣本大小 □30?250mm  20mm厚度以下     測量區(qū)域 33  平方毫米（5.8平方毫米：光接收器表面）       軟件名稱     測量項目 偏振軸，方位角，相位差

此外，還有專門用于面內(nèi)相位差測量的KOBRA - WR 0和KOBRA - WPR 0型號，沒有樣品傾角功能。 此外，KOBRA-WR，配備有在KOBRA-WPR，KOBRA-WRXY，自動XY工作臺（*大行程200×200毫米）也KOBRA-WPRXY可制成。

微波型取向評估裝置 分子取向儀MOA-6000系列